奥林巴斯土壤重金属分析仪的工作原理是基于X射线荧光(XRF)。它先后历经X光源从辐射源到迷你X射线光管,探测器从Si-Pin到硅漂移SDD的更新换代。经过多年发展,如今的市场上,已经能看到更多种类设计精良、高智能化的光谱品牌型号。各行各业的用户已体会到手持XRF分析仪所具备的强大性能带来的工作优势,如全元素数据现场实时分析,随意将手持光谱仪贴合在样品上,即可在1-2秒得到超快的分析信息,既不用长时间等待分析数据出现,也不用破坏样品本身,更不用花费较多精力准备样品。
奥林巴斯土壤重金属分析仪主要特点:
快速:半分钟能对土壤结果进行精准分析
坚固:美军认证1.2米防跌落测试和 IP64/65 防水防尘等级
耐用:低温高温耐受阈值广
方便:显示屏直观,观看界面简洁
高效:不管是戴手套还是直接用手触摸按钮,操作均很灵活
传输:多种方法进行数据传输
广泛:多元素检测分析使应用范围广泛
奥林巴斯XRF光谱分析仪
主要应用领域广泛,像XRF技术被大量应用于合金材料分析、土壤重金属含量检测、消费品(电子产品、玩具)的RoHS有毒元素分析、贵金属纯度分析等。
此外,在工业领域的材料检测应用中,XRF主要有三方面的应用:
① 工业产品的生产制造过程(QA/QC);
② 工业产品的使用过程(PMI和关键元素的检测);
③ 镀层材料的厚度检测。
技术参数:
外形尺寸 | 8.3cm×28.9cm×24.2cm(宽×高×厚) |
滤光片 | 8个滤光片,自动切换滤光片 |
探测器 | M系列:大区域硅漂移探测器 C系列:硅漂移探测器 |
电源 | 可拆装的14.4V锂离子电池或18V电源变压器 |
显示 | 800×480(WVGA)液晶电容式触摸屏,可使用手指进行控制 |
环境 | 温度:-10℃~50℃(带可选风扇时,可连续工作) 湿度:相对湿度为10%~90%,无冷凝 |
坠落测试 | 通过了美军标准810-G的1.22米高防坠落测试 |
IP评级 | M系列符合IP 64评级的要求 C系列符合IP 65评级的要求 |
压力校正 | 内置气压计,用于海拔和空气密度的自动校正 |
GPS | 嵌入式GPS/GLONASS接收器 |
操作系统 | Linux |
瞄准摄像头 | 全VGA CMOS摄像头 |
全景摄像头 | 500万像素CMOS摄像头,带自动聚焦透镜 |
数据存储 | 4GB嵌入存储,带有microSD卡插槽,可扩展存储容量 |